头条 是德科技助力蔚来验证新一代汽车无线系统 • 是德科技与蔚来的合作伙伴关系为蔚来汽车解决方案提供了更好的连接性、可靠性和性能 是德科技（NYSE: KEYS ）日前宣布，是德科技利用网络仿真解决方案，帮助蔚来成功验证了其智能电动汽车中的无线系统。基于此方案，蔚来目前能够符合 3GPP 和 IEEE 802.11 标准，并能够提供更好的连接性与性能，以支持下一代电动汽车的开发。 最新资讯 遥感图像变化检测综述 主要介绍了变化检测的基本理论。首先简述和分析了遥感图像变化检测的基本概念，指出变化检测的本质是一类模式分类问题；然后全面回顾了现有变化检测方法，将其归纳为像素级、特征级和目标级三大类，详细论述了各种方法的基本原理和特点并对其适用范围和优缺点进行了总结。 发表于：8/29/2013 安捷伦推出更快速的射频信号生成和分析产品矢量信号分析仪M9391A 安捷伦科技公司日前推出最新款1 MHz 至3 或6 GHz PXIe 矢量信号分析仪M9391A，它具有高达160 MHz 的带宽，是为测试最新无线标准而专门设计的。M9391A 与安捷伦模块化X 系列应用程序配合使用，可提供一致的用户界面、通用和一致的测量以及后向兼容的API，加快测试开发并提高吞吐量。 发表于：8/28/2013 福禄克CNX无线测试系统及VT02可视红外测温仪 喜获美国《EC&M》杂志年度产品奖 来自美国华盛顿州埃弗雷特市消息，2013 年 8 月 15 日 – 福禄克公司的FLUKE® CNX™ 无线测试工具荣获《EC&M》杂志 2013 年度“便携式测试与测量设备”类别最佳产品奖以及全类别产品金奖， FLUKE® VT02 可视温度计荣获“相机和成像设备”类别最佳产品奖。 发表于：8/22/2013 克服多标准无线电基站发射机测试的挑战 下一代基站发射机和接收机不仅采用单一无线制式的多载波（MC）技术，并且引入了在单一发射机路径中的多种制式，这些对带宽提出了更宽的要求。例如，GSM、W-CDMA 和LTE 多载波可以同时从一个多标准无线电（MSR）基站单元进行传输。蜂窝网络可以支持多种制式，这对于降低基站规模和成本而言十分重要。鉴于此，MSR基站将会从当前已部署的2/3G无线制式顺利而稳定地过渡到3.9G（例如LTE）、甚至是4G（例如LTE-Advanced）技术。 发表于：8/21/2013 吉时利推出全球首款2450型触摸屏数字源表 中国北京，2013年8月16日- 先进电气测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器日前宣布，推出首款采用电容性触摸屏和图标化操作界面的台式数字源表(SMU)。2450型数字源表使用直观的触摸屏控制和图标化操作界面，令新用户通过简单操作快速获取测试结果，大大缩减学习仪器操作的时间，显著提高工作效率，同时将更多时间用于科研领域的发明和创新。 发表于：8/16/2013 宁波磁材展现场直击：领邦自动检测设备引围观 8月15日，宁波磁材电机展第三天，北京领邦仪器别出心裁研制的钕铁硼自动检测设备持续吸引参观者的注意，该设备可对钕铁硼工件的尺寸和外观缺陷进行全检，检测效率达到200-400片/分钟，每天大约可检测36万片，尺寸检测精度可达到10μm以内。 发表于：8/16/2013 基于HARQ的TD-LTE基站性能测试方案 LTE（Long Term Evolution长期演进）技术是第三代移动通信演进的主要方向。作为一种先进的技术，LTE系统在提高峰值数据速率、小区边缘速率、频谱利用率、控制面和用户面时延以及降低运营和建网成本等方面拥有巨大的优势。同时，LTE系统与现有系统（2G/2.5G/3G）能够共存，并且实现平滑演进。 发表于：8/15/2013 泰克公司携手百佳泰展示HDMI 2.0完整测试方案及HDMI认证测试与流程 2013年8月12日–全球示波器市场的领导厂商---泰克公司日前宣布，在近日举行的“泰克公司HDMI设计和验证研讨会”上，泰克公司专家在现场为工程师演示了HDMI标准从Sink端、Source端到cable和视频内容分析及验证的全系列测试解决方案。同时泰克还携手全球IT测试和验证咨询机构百佳泰（Allion Labs, Inc），为从事领先串行数据测试的工程师分析并介绍了HDMI认证测试与流程。 发表于：8/15/2013 泛华恒兴发布基于PCI总线的反射内存卡 致力于为各行业用户提供高品质测试测量解决方案和成套检测设备的北京泛华恒兴科技有限公司（简称：泛华恒兴）近日再推出一款基于PCI总线的反射内存卡——PS PCI-3550。 发表于：8/15/2013 泰克专家论文入选“ICEMI 2013”，将现场演示S参数级联时防止失真的最新方法 全球示波器市场的领导厂商---泰克公司日前宣布，泰克公司高级设计工程师Kan Tan与泰克首席工程师John Pickerd共同撰写的《防止S参数级联时失真的插值程序》(Interpolation Procedure For Cascading S-Parameters To Prevent Aliasing)一文被“2013 IEEE 国际电子测量与仪器学术会议（ICEMI2013）”录用，同时这两位技术专家将在8月16-19日于哈尔滨举办的“ICEMI2013”上发表演讲，并通过泰克的串行数据链路分析（SDLA）工具及设备为现场观众演示这种“通过对S参数再采样来防止S参数级联过程中产生的失真”的具体方法。 发表于：8/15/2013 «…325326327328329330331332333334…»
