头条 是德科技助力蔚来验证新一代汽车无线系统 • 是德科技与蔚来的合作伙伴关系为蔚来汽车解决方案提供了更好的连接性、可靠性和性能 是德科技（NYSE: KEYS ）日前宣布，是德科技利用网络仿真解决方案，帮助蔚来成功验证了其智能电动汽车中的无线系统。基于此方案，蔚来目前能够符合 3GPP 和 IEEE 802.11 标准，并能够提供更好的连接性与性能，以支持下一代电动汽车的开发。 最新资讯 泰克CCBN 2013展示全面音视频测试及监测方案 中国北京，2013年3月21日–为有线电视和电信运营商提供IP视频监测解决方案的全球领导创新厂商---泰克公司日前宣布，将在3月21日至23日于北京举行的第二十一届中国国际广播电视信息网络展览会（CCBN 2013）上展出业内领先的一系列视频测试产品及解决方案；在同期举行的“CCBN 2013广播影视发展论坛”的“广播电视测试技术与仪器”分会场上，泰克公司还将作为独家测试测量仪器提供商受邀参与主题为“广播电视新技术体系下，广电行业设备与系统检测与测试的未来发展趋势”的研讨，并带来两场泰克测试方案公开课。 发表于：3/22/2013 安捷伦在 OFC/NFOEC 上推出传输速率为 100G 及以上的测试与测量解决方案 2013 年3 月20日，北京――安捷伦科技公司（NYSE：A）日前宣布在美国光纤通讯展览会及研讨会（OFC/NFOEC）上展示面向高速通信的测试与测量解决方案（展位2719）。本届展会于3 月19日至21日在美国加州阿纳海姆会展中心举行。 发表于：3/22/2013 安捷伦在首届电子设计创新会议（EDI CON）展示 最新射频微波与高速数字全新测试解决方案 2013 年3 月18日，北京――日前，首届电子设计创新会议（EDI CON2013）在京举行。作为全球最大的测试测量公司，安捷伦科技（NYSE：A）是本次会议的白金赞助商，安捷伦以“为中国的未来培育创新设计”为本次会议主题，集结来自全球各地的专家和最新的测试应用方案亮相首届电子设计创新会议。 发表于：3/22/2013 德州仪器推出业界首款可重构DC电弧检测参考解决方案 日前，德州仪器(TI) 在应用电源电子大会暨展览会(APEC) 上宣布推出业界首款全面可编程DC 电弧检测参考解决方案。该RD-195可帮助设计人员更快更便捷地满足确保高功率DC 系统（汽车及飞行器电池管理系统、工业工厂设备以及光伏单元等）不断提升的需求，可避免电弧故障造成灾难性毁坏。设计人员可对RD-195 进行编程，优化电弧检测精度与错误检测预防之间的平衡，充分满足系统需求。RD-195 配套提供的软件应用工具，可修改阈值检测参数。 发表于：3/21/2013 安捷伦最新推出参考级多波长计 安捷伦科技公司（NYSE：A）日前宣布推出最新的波长计产品 —— Agilent 86122C 多波长计。安捷伦在美国光纤通讯展览会及研讨会（OFC/NFOEC）上首次展示这款新产品（展位 2719）。本届展会于 3 月 19 日至 21 日在美国加州阿纳海姆会展中心举行。该产品具备出色的可靠性和耐用性，在生产车间和工程师工作台中得到了广泛应用，同时还能安装在船舶上。 发表于：3/21/2013 安捷伦在 OFC/NFOEC 上展示比特误码率测试仪 安捷伦科技公司（NYSE：A）日前宣布在美国光纤通讯展览会及研讨会（OFC/NFOEC）上展示具有 4 分接去加重能力的 32 Gb/s 比特误码率测试仪（展位 2719）。本届展会于 3 月 19 日至 21 日在美国加州阿纳海姆会展中心举行。 发表于：3/21/2013 安捷伦推出高灵敏度多端口光功率计 安捷伦科技公司（NYSE：A）日前宣布其广泛的光功率计系列增添了最新成员。双通道 N7747A 和四通道 N7748A 可将 81634B 传感器模块的最佳灵敏度集成到 N77 系列紧凑型多通道平台，并提供增强的存储容量和数据传输速度。 发表于：3/21/2013 安捷伦在 OFC/NFOEC 上推出传输速率为 100G 及以上的测试与测量解决方案 安捷伦科技公司（NYSE：A）日前宣布在美国光纤通讯展览会及研讨会（OFC/NFOEC）上展示面向高速通信的测试与测量解决方案（展位 2719）。本届展会于3 月19日至21日在美国加州阿纳海姆会展中心举行。 发表于：3/21/2013 泰克公司推出采用全球速度最快DAC的下一代高性能任意波形发生器 全球领先的测试、测量和监测仪器提供商---泰克公司日前宣布，推出采样率高达50 GS/s的下一代任意波形发生器---新AWG70000。通过提供业内最佳的高采样率、长波形内存和深动态范围组合，新AWG70000系列任意波形发生器可满足宽带电子、高速串行通信、光网络及高级研究应用领域的广泛和高标准的信号发生需要。 发表于：3/19/2013 NI携其最新产品亮相首届电子设计创新会议 2013年3月－美国国家仪器公司 （National Instruments, 简称 NI）作为金牌赞助商参加于2013年3月12日至14日在北京国际会议中心举办的首届电子设计创新会议（EDI CON）。为期三天的会议为中国的高频/高速电子行业打造了一个全新的技术交流平台，NI也携其射频领域的最新产品亮相此次展会。 发表于：3/19/2013 «…338339340341342343344345346347…»
