头条 是德科技助力蔚来验证新一代汽车无线系统 • 是德科技与蔚来的合作伙伴关系为蔚来汽车解决方案提供了更好的连接性、可靠性和性能 是德科技（NYSE: KEYS ）日前宣布，是德科技利用网络仿真解决方案，帮助蔚来成功验证了其智能电动汽车中的无线系统。基于此方案，蔚来目前能够符合 3GPP 和 IEEE 802.11 标准，并能够提供更好的连接性与性能，以支持下一代电动汽车的开发。 最新资讯 红外图像型测温中距离与像素间定量关系的研究 在研究了红外测温理论的基础上，通过黑体实验得到“温度—像素”和“像素—距离”曲线，对实验数据进行挖掘和处理后，建立了一种与距离无关的红外图像型测温方法,并给出了系统的实际应用模型。实验证明，该模型能够满足实际的测温精度要求。 发表于：8/29/2012 泰克在BIRTV2012发布新产品和新技术 广播视频测试、监测及分析解决方案的市场领导厂商---泰克公司在参展2012年北京国际广播电影电视设备展览会（BIRTV2012）首日发布一系列新产品和解决方案，包括：SPG8000主同步和主时钟参考发生器、新款Medius 集成监控预警平台、Cerify基于文件的内容分析软件7.5版和Sentry Edge II。同时泰克公司还将在其展台（北京中国国际展览中心3号馆3008展位）演示首款可以支持HDCP破解的HDMI图像质量评测方案。 发表于：8/28/2012 泰克公司推出性能出众的经济型新TLA6400 逻辑分析仪 全球领先的测试、测量和监测仪器提供商---泰克公司日前宣布，推出TLA6400系列便携式逻辑分析仪，将高性能与经济性完美结合，非常适用于广泛的嵌入式系统调试和验证应用。 发表于：8/28/2012 艾法斯针对无线市场推出首款拥有彩色触控屏的3550手持式数字无线电综合测试仪 2012年8月20日—艾法斯控股公司（Aeroflex Holding Corp.，纽交所代码：ARX）旗下的全资子公司艾法斯有限公司（Aeroflex Limited）日前宣布：其最新发布的3550数字无线电综合测试仪在业内率先配备了彩色触控屏，并通过全面的性能提升为用户带来了一种轻便灵活、简便易用和高可靠性的数字无线电综合测试系统。 发表于：8/28/2012 基于HOG和block权重的快速人体检测方法 为解决HOG行人检测过程缓慢的问题，在梯度向量直方图HOG中引入block权重的概念，通过合理筛选block，组成行人的特征向量，然后使用线性SVM作为分类器，重新进行学习，达到减少信息冗余、提高检测效率的目的。在INRIA库上进行实验，结果表明，通过合理选择block，能够在不影响检测效果的情况下，显著减少block的数目，达到提高检测速度的目的。 发表于：8/24/2012 某型导弹发控设备自动测试系统设计 阐述了某型导弹发控设备自动测试系统的设计思想、硬件组成和软件设计。系统采用基于网络数据采集卡的虚拟仪器结构，实现了对某型导弹发控设备的自动测试，具有较高的可靠性、可维修性和良好的使用性。 发表于：8/22/2012 IXIA虚拟化测试技术介绍 通过对硬件/软件接口的虚拟化，应用层业务可以不受下面所支撑硬件的限制，特别重要的是，通过虚拟化技术，硬件资源的更换或者升级对重要业务可以没有任何影响。所以，虚拟化已经成为数据中心最重要的IT实现技术之一。本文重点介绍虚拟化技术的测试与IXIA相应的解决方案。 发表于：8/21/2012 基于NIVeriStand和JMAG－RT进行高性能电机仿真 NIVeriStand的JMAG附件将NI实时测试软件技术与JMAG-RT结合，JMAG-RT是JSOL公司JMAG有限元分析（FEA）工具套件中的一部分。借助于该软件模块，您可以使用NIVeriStand轻松地实时运行高仿真有限元电机模型。这样的电机仿真精确度极高，可减少花费在昂贵的物理测试上的时间。 发表于：8/21/2012 NI DIAdem 2012 让工程数据的分析和报表变得更为简单 美国国家仪器公司（National Instruments, 简称 NI）近日发布了最新版本的DIAdem 2012，这是一款专为工程师和科学家设计用于分析和共享数据的软件工具。DIAdem以商业现成可用的方案，应对基于时间的测量数据分析和报表生成任务中的挑战。DIAdem针对海量数据集的处理进行了最优化，包括使用工程运算方法对数据进行分析，使用拖放式报表编辑风格，使用脚本来自动处理重复操作。 发表于：8/20/2012 NI 基于FPGA的控制系统为智能电网电力电子系统带来革新 美国国家仪器公司（National Instruments, 简称 NI）发布NI Single-Board RIO GPIC，提供标准的RIO架构，结合功能全面的NI LabVIEW系统设计工具链，可用于实现智能的并网型能量转换系统，并显著降低嵌入式系统的开发成本和风险。 发表于：8/20/2012 «…358359360361362363364365366367…»
