头条 美国FCC封杀所有中国实验室 10月30日消息，美国联邦通信委员会（FCC）于当地时间10月29日投票通过新规，自2028年12月1日起，禁止所有未与美国签署互认协议（MRA）国家的实验室及认证机构，为输美电子产品提供检测认证服务。 最新资讯 LabVIEW在空调测试台集中测试中的应用 通过利用NI的LabVIEW软件，我们可以根据客户的需求快速定制出符合要求的软件产品;硬件上通过LabVIEW与NI硬件的无缝结合，节省许多硬件开发时间，而且稳定性也得不到很好的保证，采用NI的硬件后，稳定性有很大的提升，开发时间减少，采样点数和采样速率也大为提高 发表于：2010/8/5 一种低噪声便携式的心电监测仪设计 针对实时监测心电信号对心电分析有重大意义。设计了一种心率监测方法，经导联输入从体表获得的心电信号先经滤波器滤除高频干扰再经一个50 Hz陷波器进一步抑制电源干扰，然后进入MSP430单片机的A／D转换得到数字化的心电信号。电路抗50 Hz陷波性能好，噪声小，整个电路经Electronics Workbench仿真观察波形基本无失真。经试验验证监测仪显示心电信号清晰稳定，基本满足临床监护以及病理分析的要求。 发表于：2010/8/5 泰克MIPI D-PHY 解决方案新增强大的一键式一致性测试功能 中国北京，2010年8月5日---全球示波器市场的领导厂商---泰克公司日前宣布，推出采用 TekExpress 平台的 Option D-PHYTX，该解决方案通过一系列初步测试，是能够提供符合最新 D-PHY 规范的业界首款一键式简化型解决方案，从而进一步丰富了其对 MIPI®（移动产业处理器接口）标准的支持。 发表于：2010/8/5 安捷伦推出全新 30 MHz 函数/任意波形发生器，树立信号精度新标杆 2010 年 8 月 4 日，北京――安捷伦科技公司（NYSE：A）宣布推出 33521A 单通道函数/任意波形发生器和 33522A 双通道函数/任意波形发生器。33521A 和 33522A 是 Agilent 33500 系列函数/任意波形发生器的新成员。 发表于：2010/8/4 泛华测控赴美参展 助力NI Week 第16届全球虚拟仪器技术盛会——NI Week将于美国当地时间8月3日在德州的奥斯汀市盛大开幕。预计全球将有超过3000余名工程师、科学家及相关学术人员参会。作为NI公司在中国的多年合作伙伴——北京中科泛华测控技术有限公司（简称：泛华测控）将参加此次盛会，并将展示其基于NI虚拟仪器技术应用的部分解决方案及产品，展品主要为LECT-1101、PXI一体化机箱和VAS-HJ专用振动测试分析仪。 发表于：2010/8/4 NI香港办事处喜迁新址 2010年7月——美国国家仪器有限公司（National Instruments, 简称NI）香港办事处于近日喜迁新址。7月8日，NI大中国区总经理陈大庞、NI大中国区销售经理陈健忠、NI华南销售经理陆达豪以及NI香港合作伙伴明创、富连达公司代表等出席了新办公室的乔迁仪式。此举不仅是为了适应不断增长的华南地区业务需要，也体现了NI对员工工作环境的关心。 发表于：2010/8/3 安捷伦科技推出手持式频谱分析仪，让外场测量更轻松、快速、精确 2010 年8 月 2 日，北京――安捷伦科技公司（NYSE：A）日前宣布推出 N9342C 手持式频谱分析仪（HSA）。N9342C HSA 是一款功能强大、界面直观的仪器，专为射频技术人员和工程师进行现场安装、维护和无线信号监测任务而设计。N9342C HSA 提供更快速、更精确的测量，具有很强的易用性以及广泛的用户定制功能和人体工程学特性，让您轻松完成现场测试。 发表于：2010/8/2 泰克荣膺“2010中国仪器仪表品牌企业20强” 中国北京，2010年7月27日---全球领先的测试、测量和监测仪器提供商---泰克公司宣布获选CCTV央视网招商频道主办的“2010年中国仪器仪表品牌企业20强”。泰克凭借在电子和通信测试测量技术上的创新、64年的品质保证和全球示波器市场长期的领导地位赢得了行业工程师和评选专家组的选票。 发表于：2010/7/27 东方集成化解深圳中小企业“创业”燃眉之急 2010年，深圳市人大常委会经济工作委员会完成了一份《深圳市中小企业发展情况调研报告》，指出：中小企业发展政策优势正减弱；七成企业存在“缺钱”问题，曾遇到资金短缺、融资困难、融资渠道不畅通的难题。 发表于：2010/7/27 惠瑞捷子公司 Touchdown Technologies 推出用于高级DRAM 测试的单次触压、全晶圆探针 2010年7月23日，北京讯 领先的半导体测试公司惠瑞捷 (Verigy)（纳斯达克代码：VRGY）旗下全资子公司 Touchdown Technologies 今天推出了其 1Td300 全晶圆探卡，这是该公司首款用于高级 DRAM 存储器件单次触压、高容量测试的探卡。该产品能够对 300 mm或200 mm 晶圆进行高并行测试(highly parallel testing)。 发表于：2010/7/23 <…602603604605606607608609610611…>
