SK海力士宣布HBM关键技术突破
2026-04-29
来源:EETOP
韩国存储厂商SK 海力士宣布,其应用于高带宽内存(HBM)模组的混合键合封装技术良率已实现提升。混合键合技术可让存储芯片厂商无需借助微凸点,即可完成存储晶圆层间的键合连接。这种直接接触的互联方式能够降低发热,进而实现更高传输速率与更优能效表现。据韩国媒体《The Elec》报道,海力士技术负责人金钟勋(Kim Jong-hoon)在韩国举办的超越 HBM—— 先进封装核心技术:从下一代基板到模组行业会议上,公布了这一技术进展。
全新封装技术将落地下一代 HBM4 内存芯片
高带宽内存通过多层存储裸片垂直堆叠,再进行整体封装制成。传统堆叠方案普遍依靠微凸点实现裸片互联,目前主流 HBM 产品多为 8 层、12 层堆叠设计。
为进一步提升传输速度、性能与单颗容量,HBM4、HBM5 等下一代内存模组需要堆叠更多晶圆层;同时,受限于设备空间要求,封装整体尺寸必须严格控制。在此背景下,混合键合技术去除了裸片之间的微凸点结构,让厂商能够在同等封装体积内,实现更多晶圆层的高密度堆叠。
海力士官宣,标志 HBM 市场取得关键技术突破
据《The Elec》消息,海力士技术高管金钟勋于首尔这场封装技术峰会上透露,公司已成功完成12 层裸片堆叠 HBM的混合键合工艺验证。他补充表示:“目前我们正全力提升工艺良率,使其达到大规模量产标准。具体良率数值暂无法公开,但整体量产筹备进度较以往大幅提速。”
混合键合量产落地前,海力士持续迭代高端底部填充工艺
在混合键合技术量产商用之前,海力士将继续沿用大规模回流成型底部填充工艺(MR-MUF)。该工艺与混合键合的目标一致,均以缩小裸片间隙为核心优化方向,但区别在于:MR-MUF 方案仍保留铜质微凸点互联结构,通过整体加热堆叠组件,再以底部填充胶填充裸片间隙,实现结构加固与性能优化。
HBM 内存虽主要面向企业级计算与高端算力负载场景,但混合键合带来的性能升级,同样会为消费级产品带来增益。不过受全球数据中心海量需求驱动,HBM 芯片将长期面临高价、供货紧缺的现状,行业产能与工艺瓶颈仍将持续存在。

